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Banco de Imagens - Manual probe system with needles for test of semiconductor on silicon wafer. Selective focus.

Manual probe system with needles for test of semiconductor on silicon wafer. Selective focus.
ID da imagem : 156443466
Tipo de Mídia : Banco de Imagens
Direitos autorais : 4itolino
3500 x 2333 px | 11.67 " x 7.78 " | 300dpi | JPG
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